電子產(chǎn)品有許多不同的電磁敏感度測試，以下是大電流注入（Bulk Current Injection）測試的示例。關(guān)于大電流注入和磁化率測試的其他規(guī)范可能會不同。利用大電流注入的最常見測試標準是MIL-STD 461，RTCA / DO-160（航空），IEC 61000-4-6（商業(yè)）和ISO 11452-4（汽車）。
依據(jù)ISO11452-2、GB/T 17619、ECE-R 10.05、2004-104-EC等標準要求，對汽車電子零部件系統(tǒng)等車載電子設(shè)備（包括電動汽車DC-DC模塊、車載充電機等）進行BCI大電流注入抗擾度測試。大電流注入測試法被認為是汽車電子模塊敏感度測試的最重要的測試項目，也是汽車零部件企業(yè)首先建設(shè)的項目之一。

國際、國內(nèi)、汽車廠商標準及測試項目：

大電流注入測試方法

在11452-4中測試方法如下：
替代法：150±10mm、450±10mm和750±10mm；
閉環(huán)法：900±10mm，監(jiān)視探頭與EUT的距離是50±10mm，替代法中監(jiān)測探頭可有可無；
TWC法：100±10mm，50Ω的負載離管狀波耦合器至少200mm。

BCI閉環(huán)測試法

BCI測試典型配置圖：

測試環(huán)境：屏蔽室或電波暗室

CDG7000系列 BCI大電流注入測試系統(tǒng)

大電流注入測試旨在確認RF信號在耦合到互連電纜和/或電源線上時，不會導(dǎo)致性能下降或與被測設(shè)備的規(guī)格發(fā)生偏差。此外，它將提供幅度/頻率故障信號。由于電纜中會出現(xiàn)較大的可變電路阻抗和諧振，因此使用校準夾具將正向功率建立到注入探針中，從而在校準夾具中產(chǎn)生定義的電流。實際注入的電流由監(jiān)視電流探針監(jiān)視。

BCI校準

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